DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Chemische Oberflächenanalyse - Röntgentotalreflektion-Fluoreszenzanalyse – Grundlagen und Anforderungen
Beginn
2022-06-08
Geplante Dokumentnummer
ISO/DIS 16666
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie
Zuständiges internationales Arbeitsgremium
ISO/TC 201/SC 10/WG 1 - XRF-Methode
Norm-Entwurf
Chemische Oberflächenanalyse - Röntgentotalreflektion-Fluoreszenzanalyse – Grundlagen und Anforderungen
2025-02
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