2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. NMP
NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

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Norm-Entwurf

ISO/DIS 16666
Chemische Oberflächenanalyse - Röntgentotalreflektion-Fluoreszenzanalyse – Grundlagen und Anforderungen

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Total reflection X-ray fluorescence - Principles and general requirements

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 10/WG 1 - XRF-Methode  

Ausgabe 2025-02
Originalsprache Englisch
Preis ab 74,40 €
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