Beginn

2022-06-08

Geplante Dokumentnummer

ISO/DIS 16666

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 10/WG 1 - XRF-Methode  

Norm-Entwurf

Chemische Oberflächenanalyse - Röntgentotalreflektion-Fluoreszenzanalyse – Grundlagen und Anforderungen
2025-02
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