NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Projekt

Chemische Oberflächenanalyse - Begriffe - Teil 4: Begriffe für die Totalreflektions-Röntgenfluoreszenz-Analyse (TXRF)

Beginn

2025-06-25

Geplante Dokumentnummer

ISO/AWI 18115-4

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 1/WG 2 - Begriffsbestimmungen  

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

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