NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Über NMP Aktuelles Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien

Norm-Entwurf

ISO/DIS 23699
Mikrobereichsanalyse - Elektronenrückstreubeugung - Fachwörterverzeichnis

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction - Vocabulary

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

ISO/TC 202/SC 1 - Terminologie

Ausgabe 2025-04

Originalsprache Englisch

Preis ab 74,40 €

Kaufen bei DIN Media

Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin