NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Projekt
Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 3: Bewertungsmethode für spikeabhängige Plastizität in Memristor-Bauelementen
Kurzreferat
Dieser Teil der IEC 62951 legt die Prüfverfahren zur Bewertung der spikeabhängigen Plastizität von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die Prüfverfahren in dieser internationalen Norm umfassen spikezeitabhängige Plastizität (STDP), indirekte STDP, spikefrequenzabhängige Plastizität (SRDP) und deren Retentionseigenschaften. Dieses Dokument gilt für neuromorphe Memristor-Bauelemente ohne Einschränkungen hinsichtlich der Bauelementetechnologie und -größe.
Beginn
2025-07-23
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 63550-3
Projektnummer
02233312
