DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Halbleiterbauelemente - Halbleiterbauelemente für IoT-Systeme - Teil 2: Prüfverfahren für Halbleiter-Lichtquellen unter Berücksichtigung menschlicher Faktoren für tragbare Geräte
Kurzreferat
Dieser Teil der IEC 63364-2 legt Verfahren und Definitionen für die Prüfmethode von Halbleiter-Lichtquellen für tragbare Geräte fest. Menschliche Faktoren werden in dieser Prüfmethode berücksichtigt. Dieses Dokument befasst sich mit der Photometrie und den Auswirkungen menschlicher Feuchtigkeit, die mit dem Menschen in Zusammenhang stehen. Die technischen Definitionen, Einrichtungen und Verfahren werden beschrieben.
Beginn
2025-06-25
Geplante Dokumentnummer
DIN IEC 63364-2
Projektnummer
02233213