Projekt
Chemische Oberflächenanalyse - Begriffe - Teil 4: Begriffe für die Totalreflektions-Röntgenfluoreszenz-Analyse (TXRF)
Beginn
2025-06-25
Geplante Dokumentnummer
ISO/AWI 18115-4
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie
