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Projekt

IEC 62215-3 Ed.1: Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method

Beginn

2009-04-24

Geplante Dokumentnummer

IEC 47A/881/CDV

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/SC 47A - Integrierte Halbleiterschaltungen  

Ihr Kontakt

Dr.

Tim Brückmann

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-364

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