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NA 062-08-18 AA
Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

Der NA 062-08-18 AA „Mikrobereichsanalyse und Elektronenmikroskopie“ ist das nationale Spiegelgremium zu ISO/TC 202 „Microbeam analysis“ und erarbeitet Normen im Bereich der Mikrobereichsanalyse, die Elektronen als einfallenden Strahl und Elektronen sowie Photonen als Detektionssignal verwendet. Ziel ist die Analyse der Zusammensetzung und strukturellen Eigenschaften von Feststoffen. Gegenstand der Normungsaktivität sind Messung, Parameter, Verfahren und Referenzmaterialien.“

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DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
Herr

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

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