Norm
[AKTUELL]
NF C96-051
; NF EN 62373:2006-10-01
NF C96-051
; NF EN 62373:2006-10-01
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)
Titel (englisch)
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
