OEVE/OENORM EN 60749-28
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) (IEC 47/1751/CDV)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) (IEC 47/1751/CDV)

Ausgabe 2004-05-01

Originalsprache Englisch

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