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Norm-Entwurf

PR NF C90-316 ; PR NF EN IEC 63616
Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies balanced-type circular disk resonator method

Titel (englisch)

Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies balanced-type circular disk resonator method

Originalsprache Englisch , Französisch
Preis ab 84,30 €
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