OVE EN IEC 63616
Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies balanced-type circular disk resonator method (IEC 46F/697/CDV) (english version)

Titel (englisch)

Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies balanced-type circular disk resonator method (IEC 46F/697/CDV) (english version)

Ausgabe 2025-04-01

Originalsprache Englisch

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