Norm
[AKTUELL]
OVE EN IEC 60749-28
OVE EN IEC 60749-28
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level (( IEC 60749-28:2022) EN IEC 60749-28:2022) (deutsche Fassung)
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (( IEC 60749-28:2022) EN IEC 60749-28:2022) (german version)
