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BS EN IEC 62047-51 Semiconductor Devices - Micro-electromechanical Devices. Part 51: Test method of electrical characteristics under two-directional cyclic bending deformation for flexible microelectromechanical devices

Titel (englisch)

BS EN IEC 62047-51 Semiconductor Devices - Micro-electromechanical Devices. Part 51: Test method of electrical characteristics under two-directional cyclic bending deformation for flexible microelectromechanical devices

Ausgabe 2024-11-22

Originalsprache Englisch

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