24/30486622 DC
BS EN IEC 62047-49. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 49. Reliability test methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever

Titel (englisch)

BS EN IEC 62047-49. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 49. Reliability test methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever

Ausgabe 2024-01-26

Originalsprache Englisch

Preis ab 25,70 €

Kaufen bei DIN Media

Inhaltsverzeichnis

Haben Sie noch Fragen?

Öffnen

Bevorzugte Anrede

Männlich

Weiblich

Neutral

Vorname*

Nachname*

E-Mail*

Telefon

Zu welchem Thema?

Betreff der Nachricht*

Ihre Nachricht*

Sicherheitscode*

Hier finden Sie unsere Datenschutzerklärung

*Pflichtfeld

Normen kaufen

DIN SPEC-Film

DIN-Mitglied werden

Mitmachen in der Normung und Standardisierung

Informationen für Verbraucher

50 Jahre. 50 Normen. Wettbewerbsfähigkeit braucht starke Standards

DIN-Mitglied werden Profitieren Sie von vielen Vorteilen

24/30486622 DC BS EN IEC 62047-49. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 49. Reliability test methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever

Haben Sie noch Fragen?

24/30486622 DC
BS EN IEC 62047-49. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 49. Reliability test methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever