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Technische Regel [AKTUELL]

EIA JEP 151A
Test Procedure for the Measurement of Terrestrial Cosmic Ray Induced Destructive Effects in Power Semiconductor Devices

Titel (englisch)

Test Procedure for the Measurement of Terrestrial Cosmic Ray Induced Destructive Effects in Power Semiconductor Devices

Ausgabe 2022-01
Originalsprache Englisch
Preis Auf Anfrage
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