• Blauer Hintergrund mit einer gelben 50 darauf

    50 Jahre. 50 Normen. Wettbewerbsfähigkeit braucht starke Standards

    Mehr erfahren
  • Ruderboot von oben

    DIN-Mitglied werden Profitieren Sie von vielen Vorteilen

    Mehr erfahren
 
Norm [AKTUELL]

BS IEC 62047-31
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials

Ausgabe 2019-04-17
Originalsprache Englisch
Preis ab 203,00 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis