OVE EN 63150-1
Semiconductor devices - Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment - Part 1: Arbitrary and random mechanical vibrations (IEC 47/2448/CDV) (english version)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment - Part 1: Arbitrary and random mechanical vibrations (IEC 47/2448/CDV) (english version)

Ausgabe 2018-03-01

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