UNE-EN 60749-40
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (Endorsed by AENOR in November of 2011.)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (Endorsed by AENOR in November of 2011.)

Ausgabe 2011-11-01

Originalsprache Englisch

Preis ab 62,10 €

Kaufen bei DIN Media

Inhaltsverzeichnis

Haben Sie noch Fragen?

Öffnen

Bevorzugte Anrede

Männlich

Weiblich

Neutral

Vorname*

Nachname*

E-Mail*

Telefon

Zu welchem Thema?

Betreff der Nachricht*

Ihre Nachricht*

Sicherheitscode*

Hier finden Sie unsere Datenschutzerklärung

*Pflichtfeld

Normen kaufen

DIN SPEC-Film

DIN-Mitglied werden

Mitmachen in der Normung und Standardisierung

Informationen für Verbraucher

50 Jahre. 50 Normen. Wettbewerbsfähigkeit braucht starke Standards

DIN-Mitglied werden Profitieren Sie von vielen Vorteilen

UNE-EN 60749-40 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (Endorsed by AENOR in November of 2011.)

Haben Sie noch Fragen?

UNE-EN 60749-40
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (Endorsed by AENOR in November of 2011.)