OVE EN 62047-28
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices (IEC 47F/242/CDV) (english version)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices (IEC 47F/242/CDV) (english version)

Ausgabe 2016-06-15

Originalsprache Englisch

Preis ab 28,04 €

Kaufen bei DIN Media

Inhaltsverzeichnis

Haben Sie noch Fragen?

Öffnen

Bevorzugte Anrede

Männlich

Weiblich

Neutral

Vorname*

Nachname*

E-Mail*

Telefon

Zu welchem Thema?

Betreff der Nachricht*

Ihre Nachricht*

Sicherheitscode*

Hier finden Sie unsere Datenschutzerklärung

*Pflichtfeld

Normen kaufen

DIN SPEC-Film

DIN-Mitglied werden

Mitmachen in der Normung und Standardisierung

Informationen für Verbraucher

50 Jahre. 50 Normen. Wettbewerbsfähigkeit braucht starke Standards

DIN-Mitglied werden Profitieren Sie von vielen Vorteilen

OVE EN 62047-28 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices (IEC 47F/242/CDV) (english version)

Haben Sie noch Fragen?

OVE EN 62047-28
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices (IEC 47F/242/CDV) (english version)