Norm
[AKTUELL]
BS EN 60749-40
BS EN 60749-40
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen
Titel (englisch)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using a strain gauge
