NF C80-204 ; NF EN 62418:2011-03-01
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Metallization stress void test

Ausgabe 2011-03-01

Originalsprache Französisch

Preis ab 92,80 €

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