Norm
[AKTUELL]
NF C80-203
; NF EN 62417:2010-11-01
NF C80-203
; NF EN 62417:2010-11-01
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET)
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
