OEVE/OENORM EN 60749-38
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008)

Ausgabe 2008-12-01

Originalsprache Deutsch

Preis ab 90,00 €

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