Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-38
; NF EN 60749-38:2008-06-01
NF C96-022-38
; NF EN 60749-38:2008-06-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: soft error test method for semiconductor devices with memory
