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Veröffentlichungen von ISO/TC 201/SC 9/WG 5

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ISO 11775 2015-10 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rastersondenmikroskopie - Bestimmung der Cantilever-Federkonstantennormalen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 13095 2014-07 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Verfahren zur in situ-Charakterisierung des Schaftprofils von AFM-Sonden zur Messung von Nanostrukturen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 23729 2022-07 Norm Chemische Oberflächenanalyse - Rasterkraftmikroskopie - Leitfaden für Wiederherstellungsverfahren von durch endliche Sondengröße geweiteten Rasterkraftmikroskopiebildern Mehr  Kaufen bei DIN Media