DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 60512-28-100
; VDE 0687-512-28-100:2025-03
Steckverbinder für elektrische und elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 28-100: Signalintegritätsprüfungen bis 2000 MHz - Prüfungen 28a bis 28g (IEC 60512-28-100:2024); Deutsche Fassung EN IEC 60512-28-100:2024
Connectors for electrical and electronic equipment - Tests and measurements - Part 28-100: Signal integrity tests up to 2000 MHz - Tests 28a to 28g (IEC 60512-28-100:2024); German version EN IEC 60512-28-100:2024
Einführungsbeitrag
Dieser Teil von IEC 60512 legt die Prüfverfahren für die Signalintegrität und das Übertragungsverhalten von Steckverbindern nach den betreffenden Teilen der Normenreihen IEC 60603-7, IEC 61076-1, IEC 61076-2, IEC 61076-3 und IEC 63171 für Verbindungstechnik bis 2 000 MHz fest. Er ist ebenfalls zur Prüfung von Steckverbindern für niedrigere Frequenzen geeignet, jedoch bleibt das in der Bauartspezifikation für jeden angegebenen Steckverbinder festgelegte Prüfverfahren die Bezugskonformitätsprüfung für diesen Steckverbinder. Die oben aufgeführte Liste von Normenreihen für Steckverbinder schließt die Bezugnahme anderer Herstellerspezifikationen oder veröffentlichter Normen für Steckverbinder aus diesem Dokument nicht aus. Dieses Dokument beinhaltet die Grundlagen zur Messung, die Beschreibung des Messaufbaus, die Kalibrierung und die Durchführung, die Dokumentation und Auswertung der Messung. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Diese Norm erhöht durch ihre Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender und gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung und sichert Kompatibilität über Herstellergrenzen hinweg.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN IEC 60512-28-100 (VDE 0687-512-28-100):2020-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Der Frequenzbereich wurde angepasst, um einpaarige Steckverbinder einzuschließen. b) Alle Tabellen und Anforderungen wurden geändert und verbessert, um die Auswirkungen der Prüfvorrichtung zu verringern. c) Es wurden Gleichungen zur Berechnung der S-Kennwerte aus unsymmetrischen Kennwerten hinzugefügt. d) Kennwerten, die nicht auf einpaarige Steckverbinder anwendbar sind, wurde eine Anmerkung hinzugefügt.
