DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung (IEC 47/2863/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-24:2024
Kurzreferat
Die unvoreingenommene, hoch beschleunigte Belastungsprüfung (HAST) wird durchgeführt, um die Zuverlässigkeit von nicht hermetisch verpackten Halbleiterbauelementen in feuchter Umgebung zu bewerten. Es handelt sich um einen hoch beschleunigten Test, bei dem Temperatur und Feuchtigkeit unter nicht kondensierenden Bedingungen das Eindringen von Feuchtigkeit durch das äußere Schutzmaterial (Verkapselung oder Dichtung) oder entlang der Grenzfläche zwischen dem äußeren Schutzmaterial und den metallischen Leitern, die es durchdringen, beschleunigt. Bei dieser Prüfung wird keine Vorspannung angelegt, um sicherzustellen, dass die durch Vorspannung möglicherweise überschatteten Ausfallmechanismen aufgedeckt werden können (z. B. galvanische Korrosion). Diese Prüfung dient zur Ermittlung von Fehlermechanismen im Inneren des Gehäuses und ist destruktiv.
Beginn
2024-08-01
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 60749-24
Projektnummer
02232470
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
Ersatzvermerk
Vorgesehen als Ersatz für DIN EN 60749-24:2004-09
Norm-Entwurf
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung (IEC 47/2863/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-24:2024
2025-04
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