DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN IEC 62007-2
Optoelektronische Halbleiterbauelemente für Anwendungen in Lichtwellenleitersystemen - Teil 2: Messverfahren (IEC 86C/1933/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62007-2:2024
Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications - Part 2: Measuring methods (IEC 86C/1933/CDV:2024); German and English version prEN IEC 62007-2:2024
Einführungsbeitrag
In diesem Teil von IEC 62007 werden die Messverfahren für die Kennzeichnung optoelektronischer Halbleiterbauelemente festgelegt, die in Lichtwellenleitersystemen und -teilsystemen Anwendung finden. Die Messverfahren zur Kennzeichnung der optoelektronischen Eigenschaften werden in den Unterabschnitten dieses Dokuments beschrieben. Es gibt keine Einschränkungen im Anwendungsbereich des Dokuments. Dieses Dokument erhöht durch seine Anwendung die Investitionssicherheit für Hersteller und Anwender, gibt Prüflaboren und Herstellern definierte Angaben zur Prüfung.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 62007-2:2009-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Korrektur eines Fehlers in der Gleichung (1) für relatives Intensitätsrauschen; b) Korrektur eines Fehlers in der Gleichung (5) in 4.7; c) Korrektur von Fehlern im Titel von Bild 11 und im Text von 4.9 („LD“ durch „LED“ ersetzt); d) Klarstellung, wie die 1‑dB‑Kompression in 4.9 zu berechnen ist; e) Korrekturen der Schaltbilder in Bild 5, Bild 11, Bild 17, Bild 18, Bild 19, Bild 20 und Bild 21; f) Klärung des Messaufbaus in 5.10 (Bild 28).
